京都テルサで開催された先進パワー半導体分科会 第5回講演会(11月6-7日)において、中島誠志君(修士課程1回生)が「高温動作集積回路を目指したノーマリオフ型p-JFETおよびn-JFETの同一SiC基板上への作製」の発表で、鐘ヶ江一孝君(修士課程2回生)が「n型GaN中の正孔トラップ密度の定量評価」の発表で研究奨励賞を受賞しました。
京都テルサで開催された先進パワー半導体分科会 第5回講演会(11月6-7日)において、中島誠志君(修士課程1回生)が「高温動作集積回路を目指したノーマリオフ型p-JFETおよびn-JFETの同一SiC基板上への作製」の発表で、鐘ヶ江一孝君(修士課程2回生)が「n型GaN中の正孔トラップ密度の定量評価」の発表で研究奨励賞を受賞しました。